當(dāng)前位置:深圳市中圖儀器股份有限公司>>三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x>>三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)>> Mars575國(guó)產(chǎn)的三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)
三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)是精制作生產(chǎn)中的一種有效數(shù)據(jù)測(cè)量手段。它可以測(cè)量復(fù)雜物體的形狀、尺寸和位置等幾何參數(shù)。任何形狀都是由空間點(diǎn)組成的,所有的幾何量測(cè)量都可以歸結(jié)為空間點(diǎn)的測(cè)量,因此用三坐標(biāo)進(jìn)行空間點(diǎn)坐標(biāo)的精確采集,是評(píng)定任何幾何形狀的基礎(chǔ)。
Mars系列國(guó)產(chǎn)的三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)是移動(dòng)橋式的三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)。支持觸發(fā)、掃描和非接觸式探測(cè)系統(tǒng)。能夠?qū)Ω鞣N零件和部件的尺寸、形狀及相互位置關(guān)系進(jìn)行檢測(cè),也可以對(duì)軟材質(zhì)或復(fù)雜零件進(jìn)行光學(xué)掃描測(cè)量。并且支持測(cè)頭更換架以及影像相機(jī),同時(shí)支持精密轉(zhuǎn)臺(tái)等。
主要特點(diǎn)
1、三軸均采用低熱膨脹系數(shù)的花崗巖導(dǎo)軌,機(jī)器具有良好的溫度適應(yīng)性,抗時(shí)效變形能力。
2、環(huán)抱式的氣浮布局,使機(jī)器保持長(zhǎng)時(shí)間的穩(wěn)定運(yùn)行,并且具有高的運(yùn)行精度。
3、關(guān)鍵部件一體鑄造成型,結(jié)構(gòu)緊湊,重量輕,強(qiáng)度高,運(yùn)行更為快速平穩(wěn)、測(cè)量精度更高。
4、Z軸采用柔性平衡系統(tǒng),在運(yùn)動(dòng)過(guò)程中具有低摩擦阻力,提高Z軸運(yùn)動(dòng)的精度。
5、采用高精度、高分辨光柵尺,確保機(jī)器在使用過(guò)程中具有高的精度和長(zhǎng)時(shí)間的穩(wěn)定性。
6、高剛性傳動(dòng),保證了機(jī)器傳動(dòng)的剛性和平穩(wěn)性,提高了機(jī)器的運(yùn)動(dòng)精度。
7、固定式的工作臺(tái),使機(jī)器具有承載能力強(qiáng)、裝卸空間寬闊、便捷。
8、氣壓檢測(cè)安全裝置,保證Z軸不會(huì)因?yàn)閿鄽舛聣嫞WC了測(cè)頭測(cè)座的安全。
目前移動(dòng)橋式結(jié)構(gòu)是中小型三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的主要結(jié)構(gòu),這種結(jié)構(gòu)特點(diǎn)是開敞性好,視野開闊,上下零件方便,運(yùn)動(dòng)速度快,精度高。配備高精度的導(dǎo)軌、測(cè)頭和控制系統(tǒng),并結(jié)合計(jì)算機(jī)程序來(lái)自動(dòng)控制檢測(cè)流程,從而計(jì)算輸出測(cè)量結(jié)果,支持測(cè)頭更換架以及影像相機(jī),同時(shí)支持精密轉(zhuǎn)臺(tái)等。
Mars系列國(guó)產(chǎn)的三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)主要檢測(cè)形位公差,包括:幾何元素的測(cè)量:點(diǎn)、線、圓、面、球、弧、橢圓、圓柱、圓 錐、鍵 槽、曲線、曲面;幾何元素的構(gòu)造:投影、中分、相交、相切、鏡像、擬合、平移、垂直、平行、組合、旋轉(zhuǎn)、偏置線、偏置;形位公差軟件:直線度、平面度、圓度、圓柱度、 圓錐度、球度、距離、夾角、垂直度、平行度、傾斜度、位置度(2D及3D)、對(duì)稱度、同軸度、 同心度等。
應(yīng)用領(lǐng)域
用于機(jī)械制造、汽車、航天航空、船舶重工、軍工、風(fēng)電、新能源等大型零件的測(cè)量;3C、工具原形等中小型零件的測(cè)量。涵蓋箱體、機(jī)架、齒輪,凸輪、渦輪,蝸桿、葉片的曲線、曲面的測(cè)量,可對(duì)工件的尺寸、形狀和形位公差進(jìn)行精密檢測(cè),完成過(guò)程控制,質(zhì)量控制,逆向成型等任務(wù)。
三坐標(biāo)檢測(cè)已廣泛用于機(jī)械制造業(yè)、汽車工業(yè)、電子工業(yè)、航空航天工業(yè)和國(guó)防工業(yè)等各部門,成為現(xiàn)代工業(yè)檢測(cè)和質(zhì)量控制的測(cè)量設(shè)備。涉及的部門和行業(yè)非常廣泛。在應(yīng)用范圍里面,三坐標(biāo)檢測(cè)也基本上涵蓋了機(jī)械零件及電子元器件和各種形狀公差和位置公差。利用三坐標(biāo)檢測(cè)手段能更好的判斷工件的實(shí)際要素與理想要素之間的誤差。